電場探棒
可進行樣品局部輻射干擾實驗。以尖頭端部分為中心可以向周圍發出射頻（RF）干擾，因此可以局部對基板及IC芯片進行抗干擾實驗。使用最大頻率為3GHz，最大可以達到約30W干擾功率。
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可進行樣品局部輻射干擾實驗。以尖頭端部分為中心可以向周圍發出射頻（RF）干擾，因此可以局部對基板及IC芯片進行抗干擾實驗。使用頻率為3GHz，可以達到約30W干擾功率。
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